电子迁移率

电子迁移率（英语：electron mobility）是固体物理学中用勒描述金属或半导体内部电子，勒电场作用下移动快慢程度个物理量。勒半导体中，另一个类似个物理量称为空穴迁移率（hole mobility）。常用载流子迁移率（carrier mobility）来指代半导体内部电子搭空穴整体个运动快慢。