电子迁移率

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电子迁移率(英语:electron mobility)是固体物理学中用勒描述金属半导体内部电子,勒电场作用下移动快慢程度个物理量。勒半导体中,另一个类似个物理量称为空穴迁移率(hole mobility)。常用载流子迁移率(carrier mobility)来指代半导体内部电子搭空穴整体个运动快慢。